短波红外相机
激光测距
光电探测器
专用光电测试设备
1）Maple-II, Micro PL System
●显微光致发光/低温-光致发光及电致发光测量
●可适用高精密光致发光测绘
●到0.01nm为止的高空间分辨率
●自动化：波长监测，滤波及激光器范围
2）SC-100 ,Macro光致发光/PLE测量
●紧凑的模块化设计及经济的选择
●多激发源（最高到9）
●单独及光纤耦合半导体激光器输入输出
●用户自定义系统
3）SC-100FS，Macro PL/寿命测量
●时间分辨率单光子计数模块
●时间分辨能力：25ps/1ns（长距离模式）
●简便及精密的电压监测
●光致发光及荧光的脉冲以及CW源
Maple-II | SC-100 | SC-100FS | ||
检测范围 | 200~5000nm | 200~5000nm | 200~5000nm（200-1600nm for Time） | |
光谱分辨率 | 0.015nm/pixel
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杂散光阻断 | 5*10-6 | |||
输入源 | 246-1064（laser combine up to 3 line） | 246-1064（laser combine up to 9 wavelength） | ||
探测器 | CCD/PMT/PD | CCD/PMT/PD/MCP | ||
自动化 | Laser line，power ,wavelength ,resolution polarization control by sw | |||
共焦模块 | Real confocal pinhole/slit | X | X | |
物镜 | X10~X100(266-1800nm) | |||
束斑尺寸 | ＜1μm | ＜50~100μm | ||
低温选项 | ~4k(77k) | |||
