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激光光电探测系统线性性能检测装置
短波红外相机

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      激光光电探测系统线性性能检测装置专用于透射式和折反式导引头探测器弥散圆调试与导引头光电线性区测试。

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适用波长

1.06um

调节方式

方位、俯仰和滚转调节




 


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